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透射式特征X射线测厚技术实验研究

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摘要

介绍了特征X射线的测厚原理、测厚系统组成及数据处理方法,并利用铜和铁的特征X射线对纸张厚度进行了实验研究;当被测量纸张的厚度从7.2mg/cm2到43.2mg/cm2时dm与In Ⅰ曲线的相关系数达到0.999以上,测量相对误差在2%以内.

著录项

来源
《核电子学与探测技术》 |2009年第1期|81-83,104|共4页
作者
赵越; 屈国普; 胡创业; 黄云;
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作者单位

南华大学核技术学院,湖南,衡阳,421001;

南华大学核技术学院,湖南,衡阳,421001;

南华大学核技术学院,湖南,衡阳,421001;

南华大学核技术学院,湖南,衡阳,421001;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类原子能技术的应用;
关键词
特征X射线; 测厚系统; 数据处理;

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