电容型设备绝缘介质损耗测量的数学模型初探

摘要

从一个简化的绝缘介质电路推导出一个简单的数学模型。通过对该数学模型的分析与计算,阐明了局部缺陷与整体介质损耗的关系,提出了介质损失角测量如何发现局部缺陷的方法和判据。