飞行时间二次离子质谱对矿物表面性质的研究

摘要

随着易选矿石的逐步枯竭,低品位、嵌布粒度细等难选矿石的开发利用已成必然趋势。目前,矿物加工已经从实践生产阶段发展到了理论研究指导实践生产的阶段,因此具有分辨率高、信息量大、灵敏快速以及样品用量少等特点的矿物表层研究方法来支撑理论研究是必不可少的。飞行时间二次离子质谱法(TOF-SIMS)是近年来在矿物加工中使用较多的一种矿物表面化学分析方法,具有表面质谱、化学成像、深度剖析、快速灵敏及数据精准的优点,因此总结归纳了近年来TOF-SIMS在矿物加工中应用取得的成果,以期为学者提供可靠的理论依据及技术支持。