超声波衍射时差法扫查面盲区对比试块

摘要

由于超声波衍射时差法(TOFD)的扫查面盲区较大,所以在应用TOFD技术前需要准确掌握盲区的大小,才能保证受检产品得到有效检测,避免漏检.检测前除了对扫查面盲区进行计算外,还必须采用相应的对比试块进行验证.结合目前检测技术的需求,设计了一种新型的扫查面盲区对比试块,采用该试块能够得到不同工况、不同检测条件下的扫查面盲区大小,从而避免漏检.