首页> 中文期刊>无损检测 >N,L3,Leff等射线探伤参数计算公式的程序型个人计算器储存和计算

N,L3,Leff等射线探伤参数计算公式的程序型个人计算器储存和计算

     

摘要

焊缝射线探伤的工艺参数中,最少曝光次数N、一次曝光透照长度L_3和底片有效评定长度L_(eff)是三个最重要的参数,它们对确保缺陷的检出率,提高检测质量和工作效率,有着十分重要的作用。在工件纵缝、环缝、封头拼接焊缝的单壁单影、双壁单影、双壁双影透照成象时,如何根据工件尺寸,同时满足国家标准规定的几何条件及透照厚度比K值的要求,准确迅速地求得这三个参数,一直是探伤人员渴望解决的问题。过去有人采用图表法,把计算结果描绘成图表曲线,使用时通过查阅曲线快速得到结果;近年来,随着计算机(PC机)的普遍应用,也有人把复杂的计算公式编制成数学程序在计算机上运算,得到精确的结果。但这两种方法中,前者使用不便,后者又不适宜生产现场应用。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号