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基于衍射和反射回波的相控阵超声缺陷定量——第十七届世界无损检测会议专题报道之一

     
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介绍对平面状缺陷:根据上下端点的衍射回波间距,对体积状缺陷:根据主反射回波与二次回波问距,用超声相控阵扇形(S型)扫描图像进行定量的方法.实验表明:用此法对缺陷表征、定量,简易快捷,结果可靠.

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