新型纳米级电接触电阻测量的新技术

摘要

研究纳米级材料的电气特性通常要综合使用探测和显微技术对感兴趣的点进行确定性测量。但是,必须考虑的一个额外因素是施加的探针压力对测试结果的影响,因为很多材料具有压力相关性,压力会引起材料的电气特征发生巨大的变化。现在,一种新的测量技术能够将纳米材料的电气和机械特性表示为施加探针压力的函数,