基于侧边基准面标定的叶片型面光学检测

摘要

叶片型面精度直接影响其工作性能和使用寿命,高效和精确的叶片型面检测对其质量控制至关重要。对此,建立了一套面向叶片型面精度测量的四轴光学检测系统,提出了一种基于叶片侧边基准面快速标定其回转轴线的型面光学检测方法。该方法可在不引入外部标定物的情况下,完成叶片型面的快速测量与重构。该方法测得实验数据与三坐标机检测数据相比,其轮廓度平均偏差在0.010 0 mm以内,最大标准偏差为0.010 4 mm,在简化检测流程、优化检测方法的同时,保证了叶片型面的检测精度,为叶片型面光学检测提供了一种新的解决思路。