基于扫描优角顶点和单调剖分的测量路径优化算法

摘要

文章提出了一种基于扫描优角顶点概念和单调剖分思想,对复杂零件测量路径进行优化的方法.该方法包括最优测量方向的选取、测量区域的单调剖分及测量路径元素的计算和测量路径的连接三个步骤.通过对具体实例的测量路径优化验证了该方法的有效性.