CMOS集成电路中ESD保护技术研究

王翠霞; 许维胜; 余有灵; 吴启迪; 范学峰

首页> 中文期刊>现代电子技术 >CMOS集成电路中ESD保护技术研究

CMOS集成电路中ESD保护技术研究

开具论文收录证明 >>

期刊封面封底目录下载 >>

页面导航

摘要
著录项
相似文献
相关主题

摘要

分析ESD失效的原因和失效模式,针对亚微米CMOS工艺对器件ESD保护能力的降低,从工艺、器件、电路三个层次对提高ESD保护能力的设计思路进行论述.工艺层次上通过增加ESD注入层和硅化物阻挡层实现ESD能力的提高;器件方面可针对电路的特点,选择合适的器件(如MOS,SCR,二极管及电阻)达到电路需要的ESD保护能力;电路方面采用栅耦和实现功能较强的ESD保护.

著录项

来源
《现代电子技术》|2008年第8期|1-3|共3页
作者
王翠霞; 许维胜; 余有灵; 吴启迪; 范学峰;
展开▼
作者单位

同济大学,半导体与信息技术研究所,上海,200092;

同济大学,上海,200092;

同济大学,上海,200092;

同济大学,上海,200092;

同济大学,半导体与信息技术研究所,上海,200092;

展开▼
原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类 BICMOS（双极-MOS混合）集成电路;
关键词
静电放电; 失效模式; ESD保护电路; 栅耦舍;
入库时间 2022-08-18 03:31:05

相似文献

中文文献
外文文献
专利

1. CMOS集成电路ESD保护技术研究 [J] . 董培培 ,张海涛 . 微处理机 . 2016,第005期
2. CMOS集成电路中电源和地之间的ESD保护电路设计 [J] . 姚维连 ,孙伟锋 ,吴建辉 . 电子产品可靠性与环境试验 . 2004,第005期
3. 亚微米CMOS集成电路ESD保护新结构 [J] . 于宗光 . 微电子技术 . 2001,第003期
4. CMOS集成电路的ESD测试 [J] . 唐立伟 . 电子制作 . 2013,第012期
5. CMOS集成电路ESD设计 [J] . 蒋玉贺 ,王爽 . 微处理机 . 2008,第003期
6. 深亚微米CMOS集成电路ESD保护技术研究综述 [C] . 李学文 ,孙可平 ,李学军 . 中国物理学会第十三届静电学术年会 . 2006
7. CMOS集成电路ESD保护技术的研究和设计 [A] . 陈志钧 . 2012

CMOS集成电路中ESD保护技术研究

摘要

著录项

相似文献

相关主题

期刊订阅