测试访问门和边界扫描结构—IEEE1149.1标准

摘要

测试访问门和边界扫描结构－ＩＥＥＥ１１４９．１标准，定义了置入ＩＣ内部的标准测试逻辑结构，以支持ＩＣ内部的逻辑测试；ＩＣ间相互连接的测试；ＩＣ正常运行时的取样测试。文章较全面地介绍该标准，并结合实例加以阐明。