首页> 中文期刊> 《微电子测试》 >测试在高级综合中的应用

测试在高级综合中的应用

     

摘要

本文在简略地回顾DFT技术发展过程的基础上,通过比较DFT和SFT,阐述了开发高级测试综合工具的重要性,给出了高级测试综合的基本概念和基本流程。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号