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基于S3C4510B的嵌入式系统调试技术

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来源
《集成电路与嵌入式系统》 |2004年第5期|67-68|共2页
作者
马学文; 朱名日;
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作者单位

桂林工学院;

中南大学;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类专用集成电路;
关键词
S3C4510B; 嵌入式系统; 调试技术; 微处理器; ARM内核; JTAG技术;

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