基于ADμC7020的高速误码测试仪

摘要

针对国内外高速误码测试仪价格昂贵、系统复杂的现状,采用ADI公司的ARM7TDMI微控制器ADμC7020和Silicon Laboratories公司生产的XFP收发芯片Si5040,设计一种简易、低成本的误码测试系统。系统由Si5040、ADμC7020和虚拟仪器Lab Windows/CVI组成。Si5040具有可编程的伪随机码比特流生成和比较功能,读出误码值,通过ADμC7020计算得到误码率,并通过I2C接口与Lab Windows/CVI构成的上位机进行通信。