基于嵌入式技术的开关寿命测试仪的设计

摘要

为了对开关的寿命进行快速准确地测试，设计了开关寿命测试仪。设计过程如下：首先设计了测试仪的硬件．该硬件使用LPC2138CPU芯片采集开关触头对应的开关量，并与TG12864液晶模块接口输出提示信息；其次设计了判断开关好坏算法和识别坏触头算法；最后根据算法给出了测试仪软件的流程图。应用表明，用这种设计方法实现的测试仪工作可靠、容易使用。适合在开关生产行业推广应用。