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瞿杨霞; 张志杰; 杜红棉;
030051,山西太原,仪器科学与动态测试教育部重点实验室中北大学信息与通信工程学院;
闪存; 存储测试; 单片机; CPLD;
机译:电阻路径对NVM阵列可靠性的影响:在Flash和ReRAM存储器中的应用
机译:在Eukarutichnesh测试系统中的应用在Eukarutichnesh测试系统中的应用。
机译:58nm门长512Mb B4-Flash存储器-验证B4-Flash存储器具有出色的可扩展性-
机译:用于DRAM和Flash应用的硅分子混合器件中氧化还原活性有机分子的多态电荷存储特性的研究。
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机译:LOCa代码CUpIDON的应用:Flash测试中的包层行为评估
机译:控制EPROM或Flash存储器阵列中的EPROM或Flash存储器阵列中的氧化物变薄的方法
机译:存储器系统,nand-flash存储器以及用于在具有随机访问的nand-flash存储器系统中读取数据的方法
机译:在flash-rom中存储和运行应用程序的方法
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