首页> 中文期刊> 《科技与创新》 >绝缘子污秽的8毫米波辐射测量方法研究

绝缘子污秽的8毫米波辐射测量方法研究

         

摘要

根据微波辐射测量理论,分析了绝缘子污秽的8mm波辐射测量方法的基本原理。采用分层媒质与天线接收原理,从理论上计算了污秽绝缘子表面的天线温度。依据计算结果及绝缘子的实地运行状况,研制出适用于绝缘子污秽检测的8mm狄克型辐射计,性能测试结果表明该辐射计的各项指标均能满足测试需求。最后,使用该辐射计完成了对XP—70型瓷绝缘子的人工污秽实验。实验结论证明测量值能够准确地反映绝缘子等值盐密量。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号