退出
我的积分:
中文文献批量获取
外文文献批量获取
王钦恒;
LDIC微电子(上海)有限公司;
上海;
200031;
片上系统 微处理器 ARM内核 ICE(芯片内部仿真) JTAG边界扫描;
机译:JTAGLive可以控制微处理器内核以进行测试和调试
机译:以ARM7TDMI [微处理器]为例的精确周期的能量测量和表征
机译:将Linux内核2.6.14移植到ARM7TDMI板上并评估性能
机译:用于ARM7TDMI-S双核微处理器的II期编译器的实现
机译:CMOS缩放对单核应用中的硬故障容限和面向吞吐量的芯片多处理器中优化的吞吐量的微处理器内核设计的技术影响。
机译:使用多内核序列内核关联测试(MK-SKAT)跨方法和阈值进行稀有变异测试
机译:COTS微处理器通过片上调试设施的可靠性评估
机译:mIT原始微处理器上的多层计算架构(pCa)内核基准测量
机译:利用内核间状态发现过程来识别共享资源的所有内核中功耗最低的目标内核状态的多核微处理器中的功耗管理方法
机译:通过电容储罐中的电荷加速微处理器内核唤醒,而不会在运行中的微处理器内核的电网上引入噪声
机译:用于调试包括微处理器核心的片上系统设备的调试器和调试方法
抱歉,该期刊暂不可订阅,敬请期待!
目前支持订阅全部北京大学中文核心(2020)期刊目录。