BIT设计与发展综述

摘要

机内测试BIT(Built-In Test)是一种能显著提高系统测试性和诊断能力的重要技术,是实现可测试性设计的重要技术手段之一。介绍了机内测试技术的定义、特点、分类、设计内容以及设计流程等,详细阐述了机内测试技术的发展历程,并对测试性技术的新趋势进行了探讨和展望。