带开孔的电子设备腔体耦合特性实验研究

摘要

对含开孔的电子设备在100MHz～1GHz频率范围内的耦合关系进行了实验研究,探讨了腔体内场强及腔体屏蔽效能随开孔尺寸变化的规律,分析了入射波频率和谐振频率与屏蔽效能的关系.通过分析数据发现,对于不同的孔,腔体屏蔽效能的极小值点出现在同一频段,并且腔体的谐振频率也落在该频段,采用甬数拟合方法对该现象进行逼近.