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杨扬; 王俊; 陆燕玲; 孙宝德;
上海交通大学金属基复合材料国家重点实验室,上海,200030;
光学晶体; 生长缺陷; 分析检测;
机译:硅晶体的本征点缺陷和生长的微缺陷,评论:“从熔体生长过程中硅晶体的本征点缺陷行为:源自实验结果的模型”,T。Abe,T。Takahashi,《晶体生长杂志》 334 (2011)16
机译:MnHg(SCN)_4非线性光学晶体的微晶化,生长,光学性质和缺陷的研究
机译:氮掺杂直拉生长硅衬底上外延层的晶体缺陷(Ⅱ)“通过控制晶体生长条件和碳共掺杂抑制外延层中的晶体缺陷”
机译:用不同技术生长的GaN的晶体缺陷和光学特性:堆叠缺陷相关的发光
机译:InGaAs / GaAs多量子阱中的缺陷产生:晶体和光学特性与外延生长条件的相关性。
机译:无铍多磷酸盐KLa(PO3)4的晶体生长和光学特性可能是深紫外非线性光学晶体
机译:生长晶体的初始生长过程的研究以及晶格缺陷和杂质的生长晶体的电学和光学性质的研究
机译:电子态理论与半导体缺陷复合物的形成能,间隙缺陷和晶体生长。
机译:晶体生长条件分析方法,晶体生长条件分析系统,晶体生长条件分析程序和晶体生长数据的数据结构
机译:缺陷例如晶体生长缺陷,光刻掩模,即掩模版的检测方法,以产生例如集成电路,涉及检查图像集上的缺陷以评估图像中重复缺陷的存在
机译:有机光学晶体,微分频率产生元素,太赫兹波产生装置,有机光学晶体的线性缺陷产生方法和有机光学晶体的制造方法
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