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基于超高密度信息存储薄膜制备的研究进展

     
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摘要

信息技术的发展要求存储器件必须具备超高存储密度、超快的存取速率.存储介质是高密度信息存储研究中的基本问题,目前几乎所有的超高密度存储技术都是在薄膜介质上实现的.薄膜的性质除依赖于存储介质材料外还依赖于薄膜的制备技术.从存储介质薄膜的制备角度介绍了超高密度信息存储的研究进展.

著录项

  • 来源
    《材料导报》|2007年第11期|4-6|共3页
  • 作者

    张秀清; 潘礼庆; 蔡莉; 郭海明; 申承民; 高鸿钧;

  • 作者单位

    北京科技大学应用科学学院物理系,北京,100083;

    中国科学院物理研究所纳米物理与器件实验室,北京,100080;

    北京科技大学应用科学学院物理系,北京,100083;

    中国科学院物理研究所纳米物理与器件实验室,北京,100080;

    中国科学院物理研究所纳米物理与器件实验室,北京,100080;

    中国科学院物理研究所纳米物理与器件实验室,北京,100080;

    中国科学院物理研究所纳米物理与器件实验室,北京,100080;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 工程材料学;
  • 关键词

    超高密度信息存储; 存储介质薄膜; 薄膜制备; 扫描探针显微镜;

  • 入库时间 2022-08-17 16:23:29

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