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'包络法'在Ba(ZrTi)O3铁电薄膜中的应用

     

摘要

采用溶胶-凝胶法在石英衬底上制备Ba(ZrTi)O3铁电薄膜,U-3010 紫外光谱仪测量BZT薄膜的透射光谱,光谱表明制备的BZT薄膜样品厚度均匀,利用"包络法"计算出薄膜的厚度约为301.3nm并得到薄膜的复折射率随入射光频率的变化曲线,进一步拟和出BZT薄膜的透射谱.研究表明在紫外光区到近红外光区"包络法"计算精度高.

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