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梁伟文; 戴珏;
深圳职业技术学院,先进制造技术工程系,广东,深圳,518055;
细分曲面; Catmull-Clark细分; 边界采样; 插值;
机译:基于Catmull-CLark细分曲面的渐进插值
机译:使用Catmull-Clark细分曲面的基于相似度的插值
机译:基于Catmull-Clark细分方案的曲线插值
机译:带边界的Catmull-Clark细分曲面的细分深度计算
机译:为具有不规则边界条件的NURBS表面重建自定义基于图案的细分。
机译:基于辐射欠采样的多层CSMRI重建技术的插值方案
机译:基于Catmull-Clark细分曲面的渐进插值
机译:扩展截断分层Catmull-Clark细分。
机译:用于重新参数化表示为catmull-clark细分曲面的三维模型的系统,方法和程序产品
机译:用于重新参数化表示为Catmull-Clark细分曲面的三维模型的系统,方法和程序产品
机译:用Bezier面片逼近Catmull-Clark细分曲面
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