首页> 中文期刊>功能材料 >用于微测辐射热计的氧化钒薄膜的光电性能研究

用于微测辐射热计的氧化钒薄膜的光电性能研究

     

摘要

采用磁控溅射方法在p-Si(100)衬底上制备了VO2和择优取向的V6O13混合相成分的薄膜.利用X射线衍射(XRD)分析、原子力显微镜(AFM)、傅立叶红外光谱(FT-IR)分析及四探针测试方法,研究了薄膜的相成分和红外吸收特性,并测试分析了薄膜的电学热稳定性.研究结果表明,通过这种方法制备的氧化钒薄膜具有较低的电阻率和较高的电阻温度系数(TCR),并且具有良好的热稳定性,可以作为微测辐射热计的热敏材料.

著录项

  • 来源
    《功能材料》|2004年第z1期|1604-1607|共4页
  • 作者单位

    哈尔滨工业大学,材料科学与工程学院,黑龙江,哈尔滨,150001;

    哈尔滨工业大学,材料科学与工程学院,黑龙江,哈尔滨,150001;

    哈尔滨工业大学,材料科学与工程学院,黑龙江,哈尔滨,150001;

    哈尔滨工业大学,材料科学与工程学院,黑龙江,哈尔滨,150001;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 材料;
  • 关键词

    氧化钒; 相变; 红外吸收特性; 热稳定性;

  • 入库时间 2023-07-24 20:45:43

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号