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退火温度对(Bi0.8La0.2)2Ti2O7薄膜物理和电学性质的影响

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采用化学溶液沉积法,在Si[100]衬底上制备了掺La的(Bi0.8La0.2)2Ti2O7薄膜,研究了退火温度对薄膜结晶性及电学性能的影响.研究发现,随着退火温度的升高,样品的结晶性越来越好;漏电流密度随之降低,表明绝缘性逐渐增强.实验证明该薄膜具有良好的绝缘性和较高的介电常数.

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来源
《功能材料》 |2004年第z1期|1439-1441|共3页
作者
杨雪娜; 黄柏标; 尚淑霞;
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作者单位

山东大学,晶体材料国家重点实验室,山东,济南,250100;

山东大学,晶体材料国家重点实验室,山东,济南,250100;

山东大学,环境工程与科学学院,山东,济南,250100;

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正文语种 chi
中图分类 O484.42;
关键词
薄膜; 退火温度; X射线衍射; 电学性质;

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