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赵彦辉; 肖金泉; 黄荣芳; 闻火; 闻立时;
中国科学院金属研究所;
武汉华硅太阳能科技有限责任公司;
硅薄膜; 缺陷; 缺陷研究方法; 转换效率;
机译:结构缺陷和纹理变异性在多晶硅薄膜晶体管性能中的作用
机译:固相结晶和激光诱导液相结晶在玻璃上的多晶硅薄膜太阳能电池中的微结构缺陷
机译:空位结构缺陷对硅薄膜导热性的影响
机译:电子通道对比度成像和电子反向散射衍射对扫描电子显微镜中结构缺陷的成像和分析的研究进展
机译:钙钛矿介电和铁电氧化物中结构缺陷的非线性光学研究
机译:嵌入氮化硅薄膜中的硅量子点与金纳米粒子在发光器件中的耦合增强了电致发光
机译:非晶氮氧化硅和氮化硅薄膜结构缺陷的光学和电学特性
机译:Hrtem图像模拟栅氧化层中的结构缺陷。
机译:测量硅薄膜的方法检测硅薄膜中的缺陷的方法和检测硅薄膜中缺陷的装置
机译:测量硅薄膜的方法,检测硅薄膜中的缺陷的方法以及用于检测硅薄膜中的缺陷的装置
机译:检测结构缺陷的方法样品裂纹内燃机,涉及在样品中存在结构缺陷的情况下,关闭不同于样品第一位置的不规则温度分布
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