大中规模数字电路的测试

摘要

本文介绍一种新型的通用大、中、小规模数字集成电路功能测试仪的组成、工作原理及主要硬、软件的设计。加权伪随机指令序列用于测试各种常用的微处理器。伪随机序列用于测试MSI/SST数字集成电路。确定性图形用于测试LSI接口电路。所有这些功能结合在一个小型的仪器内,因而具有很高的性能/价格比。测试的响应送到并行特征分析器,根据特征码正确与否就可确定被测器件的功能是否正常。