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扫描设计中扫描链的优化

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提出了扫描法可测性设计中扫描链的优化方法.采用交迭测试体制和区间法能快速求出最优解.对于确定的测试向量集,用该方法构造的扫描链能使电路总的测试时间最少.

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来源
《计算机辅助设计与图形学学报》 |1996年第4期|282-287|共6页
作者
叶波; 郑增钰;
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作者单位

复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室,上海,200433;

复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室,上海,200433;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类计算技术、计算机技术;
关键词
扫描设计:扫描链; 交迭测试; 区间法;

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