寄存器传输级测试用例生成算法

摘要

基于控制流图/数据流图层次模型,以分支覆盖、位功能覆盖以及语句可观测覆盖为目标,给出一个高层次测试用例生成算法,并最终实现一种可行的RTL级测试生成算法.实验结果表明,在较少的测试生成时间下,该算法可生成相对短的测试序列,得到与其他方法相当或略差的测试效果.此外,该算法因采用了测试用例技术而具有良好的灵活性.