双采样技术在三阶sigma-delta调制器中的应用

摘要

近年发展的双采样技术(double sampling)[1]是提高sigma-delta调制器信噪比的一种有效的方法,而电容的失配是影响其信噪比的重要因素.分析表明,双采样技术在三阶系统中的应用,电容失配引起前馈信号混叠,由此产生的噪声对系统信噪比的影响不可忽略.本文提出了一种结合ILA DAC[2]和前端完全浮动电容结构的电路形式,将这种结构应用在第二级调制器的积分器上,使双采样电容失配产生的噪声远小于量化噪声,从而满足了三阶调制器的性能要求.