量子检测效率在平板探测器评估中的研究进展

摘要

平板探测器(flat panel detector,FPD)是X射线摄影系统中至关重要的部分,其性能直接影响所采集图像的质量。量子检测效率(detective quantum efficiency,DQE)涉及探测器的噪声、分辨率、剂量、调制传递函数、噪声功率谱等多项参数,被公认是X射线成像性能最准确的评估指标,DQE越高,说明影像系统在低X射线入射剂量的情况下,获得高质量影像的能力越强。我们简单介绍了平板探测器的种类,对其DQE的检测技术的研究现状、进展及应用作了综述,归纳了在DQE检测过程中的有关影响因素,并进行了总结展望。