ICP-OES法测定硅铁中铁含量

摘要

研究了电感耦合等离子体发射光谱仪(ICP-OES)法测定硅铁中铁含量的应用性.通过对分析测试线、称样量、试样溶解、谱线干扰的研究,实验结果表明选取铁元素259.940 nm谱线,配制合适的标准曲线,利用电感耦合等离子体发射光谱仪能够快速准确地测定硅铁中铁含量.结果与硅铁标准物质标准值相吻合,结果的相对标准偏差RSD≤1.00％.方法较滴定法简化了操作.