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徐至中; 董树忠;
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机译:在XPS实验数据谱线的确定的误差估计的方法
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机译:基因漂移扩大了预期的谱线但缩小了预期的谱线宽度
机译:结构对硝基XPE谱光谱线宽的影响
机译:从低压等离子体发射的HeI 4 exp 3 D,exp 3 F-2 exp 3 p(λ= 447.15 Nm,λ= 447.0 Nm)光谱线的结构研究
机译:XPS XRF硅锗厚度和组成测定使用组合XPS和XRF技术确定
机译:XPS和XRF结合使用XPS XRF硅锗厚度和成分测定
机译:结合XPS和XRF技术测定硅锗厚度和成分
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