IEC/TC47、SC47E及SC47F工作组会议在我国召开

摘要

近日,IEC/TC47、SC47E半导体分立器件分技术委员会和SC47F MEMS分技术委员会工作组会议在成都召开。来自中国、日本、韩国、德国等国家的36位专家参加了会议。各工作组召集人介绍了各工作组的工作进展情况,对SC47E、SC47F目前正在制修订的半导体传感器、微波半导体器件、MEMS器件标准展开了讨论,主要包括IEC 62047和IEC 60747系列标准。