首页> 中文期刊> 《信息技术与标准化》 >半导体器件单粒子效应及标准研究

半导体器件单粒子效应及标准研究

开具论文收录证明 >>

期刊封面封底目录下载 >>

文献代查 >>

页面导航

摘要
著录项
相似文献
相关主题

摘要

简要介绍半导体器件的单粒子效应及其机理,重点分析当前国外主要的单粒子效应试验方法标准,针对标准中辐照源及重离子射程的关键问题进行研究,并对如何制定我国的单粒子试验方法标准提出了建议.

著录项

来源
《信息技术与标准化》 |2009年第6期|27-30|共4页
作者
周俊; 王宝友;
展开▼
作者单位

中国电子技术标准化研究所;

中国电子技术标准化研究所;

展开▼
原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类半导体技术;
关键词
半导体器件; 效应; 单粒子; 标准;

相似文献

中文文献
外文文献
专利

1. 半导体器件单粒子效应的加速器模拟实验 [J] . 贺朝会 ,耿斌 ,杨海亮 . 强激光与粒子束 . 2002,第001期
2. 重离子在半导体器件中引起的单粒子效应 [J] . 侯明东 ,甄红楼 ,张庆祥 . 原子核物理评论 . 2000,第3期
3. 利用重离子束开展半导体器件单粒子效应的探讨 [J] . 刘杰 . 原子能科学技术 . 1997,第003期
4. 半导体器件单粒子效应的机理,试验和预计 [J] . 孟庆茹 ,赵大鹏 . 中国空间科学技术 . 1993,第004期
5. 塑封半导体分立器件标准研究 [J] . 李虹 ,吴维丽 . 信息技术与标准化 . 2016,第8期
6. 质子在半导体器件中引起的单粒子效应研究 [C] . 刘杰 ,侯明东 ,张庆祥 . 中国空间科学学会空间探测专业委员会第十五次学术会议 . 2002
7. 基于先进半导体器件模型仿真的单粒子效应研究 [A] . 崔力铸 . 2017

获取原文

客服邮箱：kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备：11010802029741号 ICP备案号：京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有

客服微信
服务号