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FPGA内部逻辑单元的内建自测试方法研究

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摘要

本文针对FPGA内部的可编程逻辑资源测试问题,阐述了基于扫描链的FPGA内部逻辑单元的内建自测试方法.研究了该方法在构建过程中应注意的事项,以及故障定位方法等,能够实现FPGA内部的逻辑资源遍历测试,具有简单易行、高效、低成本的优点.

著录项

来源
《信息技术与信息化》 |2021年第2期|143-144|共2页
作者
吴蓬勃;
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作者单位

航空工业西安航空计算技术研究所陕西西安 710077;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类
关键词
FPGA; 逻辑单元; 内建自测试;

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