一种基于RS编码的存储器容错技术研究

摘要

近年来,由DRAM(Dynamic Random Access Memory)芯片发生多位失效而引起系统故障的次数大大增加,早先的单错纠正/双错检测(SEC/DED:Single Error Correction/Double Error Detection)技术已经不能满足人们对系统可靠性的要求,因此Chipkill技术应运而生.但目前商用的Chipkill技术尚不能很好地处理编码纠错能力与校验开销之间的矛盾,并且不具备通用性.为此,本文提出一种基于RS(Reed-Solomon)编码的Chipkill方案,在保持很小校验开销的前提下,该方案能够为多种位宽(X4、X8、X16、X32)的DRAM提供芯片级保护,而且适用于多种访存宽度的存储系统.