过氧化氢对新生小鼠耳蜗螺旋神经节的体外损伤效应

摘要

目的：建立不同浓度过氧化氢（ H2 O2）对原代培养的小鼠耳蜗基底膜螺旋神经节的损伤模型，观察过氧化氢（ H2 O2）对螺旋神经节的损伤效应。方法新生小鼠耳蜗基底膜原代培养，取培养第2天细胞加入H2 O2，浓度分别为0、100、200、400、600、800μmol／L（分别为对照组及100、200、400、600、800μmol／L组），培养24 h。行耳蜗基底膜的螺旋神经微丝免疫荧光染色，倒置荧光显微镜下计数各组耳蜗基底膜神经微丝的密度（每100μm距离内的螺旋神经微丝数）。结果 H2 O2作用24 h后各组耳蜗基底膜神经微丝的密度（每100μm距离内的螺旋神经微丝数）分别为：对照组43.17±0.75、100μmol／L组33.00±2.16、200μmol／L组26.00±2.86、400μmol／L组19.00±2.04、600μmol／L组14.00±2.31、800μmol／L组9.00±1.03。其中400、600、800μmol／L组与对照组比较差异有统计学意义（ P＜0.05）。在H2 O2的作用下，原代培养的螺旋神经节随着H2 O2浓度的增加，受损伤的螺旋神经微丝数目呈增加趋势。高浓度H2 O2损伤后螺旋神经纤维呈节断状损失改变，神经纤维逐渐变细局部断裂，染色变淡，神经纤维数量明显降低。结论 H2 O2可以引起螺旋神经节损伤，且作用有明显的剂量依赖性。