基于高光谱成像技术的水果表面农药残留无损检测

摘要

在高光谱成像技术的基础上,提出了一种应用于水果表面农药残留的无损检测方法.对采集数据进行预处理和特征提取,通过细菌群体趋药性算法找到最优的最小二乘支持向量机参数,建立农残检测模型,并与最小二乘支持向量机模型进行比较,验证该模型的优越性和准确性.结果表明,基于连续投影法特征波长结合文中检测模型具有最高的检测精度,其准确率达97.92％.