电子装备测试性验证的超几何分布法

摘要

分析了现有故障检测率(FDR)和故障隔离率(FIR)验证方法在使用中存在的同题,结合当前电子装备故障检测设备的特点,提出了故障检测覆盖率(FDC)和故障隔离覆盖率(FIC)新的测试性指标.利用超几何分布函数替代二项分布函数建立方程组求解验证试验抽样方案,并利用超几何分布函数的单调性给出了快速计算抽样方案的方法.分析了超几何分布法用于FDR和FIR验证的原理和条件,将超几何分布法用于FDR和FIR的验证,拓展了其应用范围.最后,通过实例分析证明了超几何分布法的正确性、实用性.