爆轰加载下金属材料的微层裂现象

摘要

通过在LiF窗口撞击镀膜面增加一薄层LiF和对LiF窗口反光面进行漫反射面镀膜处理的方法,对传统Asay窗诊断技术进行了改进,获得了微层裂物质高质量的实验信号.将改进后Asay窗技术与中能X射线照相及激光干涉测速技术相结合,实验给出了熔化状态下Sn材料微层裂物质不同时刻的密度空间分布图像及演化特征,且不同测试技术诊断结果半定量吻合.得到Sn材料微层裂物质的清晰物理图像,可为微层裂物理机理的认识和物理建模提供实验数据.