首页> 中文期刊> 《电子世界》 >关于Photo Spacer高度与LC滴入数据联动的研究报告

关于Photo Spacer高度与LC滴入数据联动的研究报告

             

摘要

研究了京东方小尺寸出现的一系列高低温测试过程中出现的重力Mura和Bubble问题,主要为Photo Spacer(PS)存在较大波动,导致LC Margin评价出现偏差,或者LC Margin评价后,实际量产PS存在批次性差异。通过对问题根源的分析,一方面寻找精确测试LC Margin的方案;另一方面对于真实Margin过小的产品,研究LC量与实际PS高度进行匹配,以联动的方式管控液晶量的滴入,从而克服PS波动过大引起的LC 偏出真实Margin的问题。鉴于目前几乎所有ADS Mobile产品面临的面贴按压水波纹和发黄的现状,产品在设计时需要增加Main PS的密度,直接影响PS的压缩率,导致LC Margin过小。而当PS工艺管控能力无法满足LC Margin过小所需的精度时,从LC与PS联动的角度研究了解决问题的方案,从而保证产品品质的同时,减小工程管控风险。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号