一种DRAM芯片间共享IO测试通道的电路设计方法

摘要

在DRAM(Dynamic Random Access Memory动态随机存储器)测试中,由于芯片间性能的差异,经过功能测试后,芯片读出的数据不相同,因此不同芯片的输入输出IO(Input Output)管脚不能共享测试通道.本文通过一种测试模式的设计,实现了两个DRAM芯片间共享IO测试通道,突破了DRAM同测数受爱德万专用测试机台IO测试通道的限制,缩短了测试时间,提升了测试效率.