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欧宝明;
厦门狄耐克智能科技股份有限公司;
福建厦门361026;
MOS管 ; 静电 ; 击穿 ; 检测;
机译:软击穿是MOS隧道结构中电流下降的原因
机译:软击穿是隧道MOS结构中电流衰减的原因
机译:软击穿作为降低在隧道电流MOS结构的原因
机译:超高压电气击穿原因的实验研究使用“预击穿局部放电检测方法”的交联聚乙烯绝缘
机译:跨气隙的静电击穿的3D全波模拟方法
机译:静电击穿产生的恒流摩擦电纳米发电机
机译:激光诱导击穿光谱检测方法
机译:使用Emsolve和BEmsTER进行静电击穿分析
机译:击穿电压高的MOS场效应管
机译:静电击穿防止基体,电子设备的静电击穿预防结构,具有该结构的磁盘驱动器及其制造方法以及电子设备的静电击穿预防方法
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