首页> 中文期刊> 《电子质量》 >微电子器件测试技术(上)

微电子器件测试技术(上)

AI论文写作 >>

开具论文收录证明 >>

页面导航

摘要
著录项
引文网络
相似文献
相关主题

摘要

本文分析了微电子器件的发展趋势,论述了微电子器件的测试筛选与质量控制的关系.重点结合了华峰测控的STS 2100系列测试系统介绍了各种微电子器件的相关测试技术,同时也介绍了测试失效分析及其重要性.

著录项

来源
《电子质量》 |2005年第6期|8-10|共3页
作者
孙铣;
展开▼
作者单位

北京华峰测控技术有限公司,北京,100070;

展开▼
原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类测试和检验;
关键词
微电子器件; 测试技术; 失效分析; 测试筛选; 质量控制; STS 2100;

相似文献

中文文献
外文文献
专利

1. 微电子器件温度分布测试技术研究 [J] . 吴爱华 ,梁法国 ,郑世棋 . 计算机与数字工程 . 2010,第009期
2. 微电子器件测试技术(中) [J] . 孙铣 . 电子质量 . 2005,第007期
3. 微电子器件测试技术(下) [J] . 孙铣 . 电子质量 . 2005,第008期
4. 国际上微电子器件可靠性预估的各种主要方法的评述和比较 [J] . Bowl.JB ,郑鹏洲 . 电子产品可靠性与环境试验 . 1993,第003期
5. 国际上微电子器件可靠性预估的各种主要方法的评述和比… [J] . Bowl.JB ,郑鹏洲 . 电子产品可靠性与环境试验 . 1993,第004期
6. X射线衍射法残余应力测试技术在钛合金材料上的应用研究 [C] . 虞永杰 ,杨扬 ,王小兵 . 2015年国防科技工业无损检测技术论坛 . 2015
7. 上拔式静力触探测试技术研究 [A] . 徐婧 . 2017

获取原文

客服邮箱：kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备：11010802029741号 ICP备案号：京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有

客服微信
服务号