首页> 中文期刊> 《电子工艺技术》 >最佳椭圆法在芯片角度检测系统中的应用

最佳椭圆法在芯片角度检测系统中的应用

         

摘要

使用最佳椭圆法计算芯片图像的角度和位置是一种全新的数字图像处理的方法,芯片的角度在数字图像处理和图像特征提取中是不可或缺的根本任务之一.在SMT设备的视觉检测系统的应用中,发现识别芯片角度是提高贴装的精度和速度的关键步骤.最佳椭圆法是一种全新的识别芯片角度和位置的算法.在之后的两个对比实验中,发现该算法比普通模板匹配算法及边缘检测算法更加具有快速性、精确性和鲁棒性的特点.

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号