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多芯片贴片式LED器件结温测量

     

摘要

结温是多芯片LED器件热性能的关键参数.以SMD5050 LED器件为例,研究了多芯片贴片式LED器件结温测量方法.SMD5050 LED是一种多芯片贴片式封装的LED器件,器件内封装有3颗芯片,3颗芯片之间并联.根据单芯片LED器件热阻测试原理,模拟SMD5050 LED器件正常工作时的状态,对SMD5050 LED器件的结温进行了测量,并根据LED芯片特性,验证了测量结果的准确性,这种方法适用于封装结构相似的其他多芯片LED器件结温的测量.

著录项

  • 来源
    《电子工艺技术》|2013年第3期|145-147,180|共4页
  • 作者单位

    国家半导体器件质量监督检验中心,河北石家庄050051;

    国家半导体器件质量监督检验中心,河北石家庄050051;

    国家半导体器件质量监督检验中心,河北石家庄050051;

    国家半导体器件质量监督检验中心,河北石家庄050051;

    国家半导体器件质量监督检验中心,河北石家庄050051;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 半导体光电器件;
  • 关键词

    5050LED; 多芯片; 结温; 测量;

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