FPGA潜在缺陷测试技术综述

摘要

在FPGA的设计、生产过程中,测试是保证器件质量的关键步骤.针对FPGA典型的潜在缺陷,阐述了主流的FPGA测试方法,对各方法的优缺点做了简要对比和总结.同时提出了对构成FPGA的可编程逻辑资源、互联线资源、端口资源、内嵌核4大模块分别进行测试的分类测试法,分析每个模块的典型缺陷,归纳对应的测试方法.