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曾允明; 汪健;
无;
机译:在线KGD测试可加快倒装芯片装配速度
机译:在通过热超声倒装芯片键合工艺组装的芯片和柔性基板中执行的TCT和HH / HT测试的可靠性
机译:考虑芯片-基板效应的60-GHz倒装芯片组装MIC设计
机译:设计和组装工艺对裸芯片和有盖倒装芯片球栅阵列封装的无铅焊点可靠性的影响
机译:在环境和电源循环测试期间进行倒装芯片组装的过程应力分析和可靠性评估。
机译:激光诱导的单芯片倒装芯片封装的正向转移
机译:倒装芯片组装和底部填充应力;用aTC4.1装配测试芯片测量并用有限元法分析
机译:具有倒装芯片安装的半导体裸芯片的半导体器件以及具有用于倒装芯片安装的半导体裸芯片的薄膜结构电容器的基板构件
机译:半导体器件,包括通过倒装芯片接合安装的半导体裸芯片以及具有用于通过倒装芯片接合安装的半导体裸芯片的薄膜结构电容器的板构件
机译:具有倒装芯片安装的半导体裸芯片和具有薄膜结构电容器的基板构件的半导体器件,用于倒装芯片安装的半导体裸芯片
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